| Название | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции |
|---|---|
| Аннотация | Стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения напряжения изоляции постоянного или импульсного. Стандарт соответствует СТ СЭВ 3790-82 в части измерения напряжения изоляции. |
| Статус Н/Д | Действующий |
| Дата принятия в РТ | 01.07.1982 |
| Дата введения | 01.07.1982 |
| Разработчик Н/Д и его адрес | - |
| Категория | Каталог межгосударственных стандартов |
| Язык оригинала | Русский |
| Изменения | 1 |
| Кол-во страниц | 8 |
| Заказать |