Название | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости |
---|---|
Аннотация | Стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения проходной емкости. Стандарт соответствует СТ СЭВ 3790-82 в части измерения проходной емкости. |
Статус Н/Д | Действующий |
Дата принятия в РТ | 01.07.1982 |
Дата введения | 01.07.1982 |
Разработчик Н/Д и его адрес | - |
Категория | Каталог межгосударственных стандартов |
Язык оригинала | Русский |
Изменения | 1 |
Кол-во страниц | 12 |
Заказать |